電子元件分析——布魯克光譜為整個產業(yè)鏈提供量身定制的解決方案
平常我們說道紅外光譜，**時間就是想到紅外儀器在石油，化工，制藥，食品，飼料等等方面進行著應用。事實上，紅外光譜儀器還能運用在電子元件方面。以一臺手機為例，生產者會關心他的部件質量是否符合要求，有沒有缺陷或出現故障的原因。應對這些問題，布魯克光譜能對整個產業(yè)鏈研究與檢測提供一個有效的解決方案。
首先，面對一臺手機，我們*先看到的是它的表征信息，也就是攝像頭，顯示器，傳感器。通常人們想要了解這些紅外傳感器、多層面板、顯示器零件的信息。在了解這些電子元件信息的過程中，為了不破壞其光學器件的完整性，布魯克的三款光譜儀器：INVENIO,LUMOSⅡ,SENTERRAⅡ可以對其進行非侵入性檢測。這幾款儀器還擁有高空間分辨率，通過軟件能清晰看到出現問題的地方。經過檢測和光譜的對比后，儀器能識別樣品中未知的異物。
對于手機的儲能元件，也就是我們平常所說的電池，我們可以使用布魯克的SENTERRAⅡ和ALPHAⅡ對其進行檢測。影響電池性能主要因素是電池陽極與陰極的材料以及其中的電解質，這些物質決定了電池充放電反應的過程。SENTERRAⅡ擁有實時校準功能，能保證測量的穩(wěn)定性，因此可以對電池進行原位測量。ALPHAⅡ占地面積僅一張A4紙大小，能放入手套箱中進行操作。這兩種儀器都能鑒定電池反應時產生的副產物。
接下來我們可以分析手機的塑料，外殼和組件，這部分聚合物部件常常需要對其進行質量控制和缺陷分析，布魯克的ALPHA II、LUMOS II、SENTERRA II就能勝任這些工作。制作這些部件除了主材料以外，還要加入各種添加劑、填充劑、增塑劑等，甚至需要在這些部件表面貼上多層膜，這些部件，其涂層厚度也是有具體要求的。布魯克光譜儀器能快速分析出物質的光譜并依靠龐大的參考譜庫定制完整的聚合物解決方案。
在生產過程中，不可避免會遇到未知污染物附著在電子元件中，造成故障的情況，布魯克LUMOS II和SENTERRA II能分析其中未知異物并驗證其組成，這種分析并不會破壞電子元件。布魯克傅立葉變換紅外儀器可分析小至5微米的異物，而拉曼儀器可分析小至0.5微米的異物。不管是有機物還是無機物，都能夠對其進行分析。
*后，關于屏幕的多層組件和表面細化涂層，生產者對于涂層的厚度，均勻性等方面需要進行質量控制和工藝評估，這同樣可以使用布魯克的LUMOS II、SENTERRA II以及BRAVO進行檢測。
在電子元件行業(yè)，我們布魯克的紅外光譜儀器通常應用于材料研究、故障根源探究、質量控制、工藝純凈度、表面分析等等方面。相對于其他品牌的儀器，布魯克的優(yōu)勢在于能為客戶快速收回成本，并且易于集成到實驗室中。不僅如此，布魯克的儀器維護需求和運行成本都低于市面上平均水平。
